Współczesna metrologia : zagadnienia wybrane /

Additionaly authors: Barzykowski, Jerzy. Edition statementWyd. 1 (dodr.) Publisher: Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, (Warszawa : ) , 2007 Physical description: 573, [3] s. : il. ; 24 cm. ISBN:. Keywords: Metrologia | Pomiary | Systemy pomiarowe | Sieci neuronowe
pol
List(s) this item appears in: Metrologia
Tags from this library:
No tags from this library for this title.
    rate: 0.0 (Voices: 0)
Item type Location Call number Status Unavailable to
Czytelnia (tylko na miejscu) Czytelnia (tylko na miejscu) Poznań
69 (Browse shelf) Not for loan
Czytelnia (można wypożyczyć) Czytelnia (można wypożyczyć) Poznań
69 (Browse shelf) Available

Barzykowski, Jerzy: Wprowadzenie
Mroczka Janusz: Metrologia w procesie poznania
Turzeniecka Danuta, Domańska Anna: Dokładność oceny niepewności i dokładność systemów pomiarowych
Polański Zbigniew: Badania empiryczne - metodyka i wspomaganie komputerowe
Osowski Stanisław: Sztuczne sieci neuronowe w metrologii
Kujawińska Małgorzata: Wybrane problemy metrologii optoelektronicznej (polowa interferometria laserowa)
Tlaga Waldemar, Winiecki Wiesław: Systemy pomiarowe
Skorowidz

Bibliogr. przy rozdz. Indeks.

Click on an image to view it in the image viewer

Languages: